-Une évolution permet de laisser l’observation et l’analyse à l’instrument afin d’améliorer l’efficacité-
TOKYO–(BUSINESS WIRE)–JEOL Ltd. (TOKYO : 6951) (Président et PDG Izumi Oi) annonce le lancement des microscopes électroniques à balayage JSM-IT710HR/JSM-IT210 le 23 juillet 2023.
Les microscopes électroniques à balayage sont utilisés pour un large éventail d’objectifs allant de la recherche fondamentale, des lignes de production et de l’assurance qualité à la recherche et au développement, et leurs domaines d’application incluent les métaux, les semi-conducteurs, les batteries, la biotechnologie et les polymères. Il existe un besoin encore plus grand de confirmer plus facilement les informations relatives à la composition sans être conscient non seulement de l’observation, mais aussi de l’analyse.
Le JSM-IT710HR améliore la stabilité du canon à électrons, tandis que le JSM-IT210 utilise une platine d’échantillonnage à commande motorisée à 5 axes. Ces deux modèles ont perfectionné les fonctions de mesure automatique pour l’observation et l’analyse et ont considérablement amélioré les atouts globaux du SEM. Ils répondront aux besoins récents du marché en matière de mesures automatiques et contribueront à accroître l’efficacité des travaux de routine.
Caractéristiques principales
1. La fonction de « Simple SEM » automatise l’acquisition de l’image SEM et l’analyse EDS
La fonction Simple SEM permet à l’utilisateur de sélectionner simplement les conditions d’acquisition et le champ de vision de l’image SEM, puis l’image SEM et l’analyse EDS (spectrométrie de rayons X à dispersion d’énergie) sont automatiquement acquises. Cette fonction contribuera à accroître l’efficacité des travaux de routine, y compris l’analyse.
2. « Live3D » construit des images 3D sur place
Des images 3D peuvent être construites sur place pendant l’observation SEM afin d’obtenir des informations sur les irrégularités et la profondeur.
3. Le « Stage Navigation System LS » permet aux utilisateurs d’acquérir une image optique d’une zone cinq fois plus grande que celle des systèmes conventionnels.
Le Stage Navigation System LS permet d’acquérir une image optique d’une zone cinq fois plus grande que celle des systèmes conventionnels (diamètre d’environ 159 mm). Cette fonction permet à l’utilisateur d’acquérir une image optique de l’échantillon d’observation et de se déplacer vers le champ d’observation souhaité en cliquant simplement sur l’image optique.
4. Le « Low-vacuum Hybrid Secondary Electron Detector (LHSED) » permet d’acquérir des informations topographiques améliorées, même sous un vide réduit.
Ce détecteur recueille à la fois les signaux des électrons et des photons, ce qui permet d’obtenir une image avec un rapport signal/bruit élevé et des informations topographiques améliorées, même sous un vide faible.
5. Platine porte-échantillons à commande motorisée à 5 axes
La platine porte-échantillons à commande motorisée à 5 axes est utilisée de série, ce qui facilite l’acquisition d’images SEM d’échantillons irréguliers et l’analyse EDS.
6. Amélioration de la stabilité du canon à électrons (JSM-IT710HR)
La stabilité du faisceau d’électrons est améliorée, ce qui permet un fonctionnement automatique et continu sur une longue période, en utilisant un porte-échantillons pouvant charger plusieurs échantillons à la fois.
Objectif annuel de vente d’unités
JSM-IT710HR : 150 unités/an
JSM-IT210 : 250 unités/an
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japon
Izumi Oi, Président et PDG
(Code boursier : 6951, Tokyo Stock Exchange Prime Market)
www.jeol.com
Le texte du communiqué issu d’une traduction ne doit d’aucune manière être considéré comme officiel. La seule version du communiqué qui fasse foi est celle du communiqué dans sa langue d’origine. La traduction devra toujours être confrontée au texte source, qui fera jurisprudence.
Contacts
JEOL Ltd.
Division des ventes d’instruments scientifiques et de mesure
TÉL. : +81-3-6262-3575
https://www.jeol.com/contacts/products.php